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metrolux BM3745 UV/VIS激光光束質(zhì)量儀 metrolux激光光束分析儀可測量激光強(qiáng)度分布，范圍包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直徑從1µm - 100 mm，可按EN-ISO標(biāo)準(zhǔn)記錄和分析光束。 具有適合于分析光斑和光束位置以及用于均勻激光光束特點(diǎn)描述的各種軟件工具，可選附件便于協(xié)調(diào)脈沖激光器和單脈沖的測量。

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Metrolux VIS-NIR 光束質(zhì)量分析儀 產(chǎn)品簡介 metrolux激光光束分析儀可測量激光強(qiáng)度分布，范圍包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直徑從1µm - 100 mm，可按EN-ISO標(biāo)準(zhǔn)記錄和分析光束。 具有適合于分析光斑和光束位置以及用于均勻激光光束特點(diǎn)描述的各種軟件工具，可選附件便于協(xié)調(diào)脈沖激光器和單脈沖的測量。

FM系列焦斑質(zhì)量分析儀 緊湊的探測器頭由一個CCD傳感器、一個集成的衰減器、一個近場透鏡和Beamlux Ⅱ高級分析軟件組成。功率與工作距離與適配的探測器選擇有關(guān)，詳見下方型號選擇表格。 大范圍波長可選，根據(jù)近場透鏡確保對大數(shù)值孔徑和高脈沖功率密度的光斑進(jìn)行測量。

激光光束穩(wěn)定器 激光光束由于其方向性好的優(yōu)點(diǎn)，常被作為直線基準(zhǔn)廣泛應(yīng)用在加工和測量設(shè)備中。但由于受環(huán)境狀態(tài)等因素的影響，制約了激光方向穩(wěn)定精度的進(jìn)一步提高，限制了激光在超精密加工和測量設(shè)備中的進(jìn)一步應(yīng)用。因此，需要對激光光束作準(zhǔn)直處理。在自動準(zhǔn)直系統(tǒng)中，系統(tǒng)根據(jù)輸入光束光斑的位置，驅(qū)動執(zhí)行機(jī)構(gòu)，自動調(diào)整接收裝置位置，達(dá)到實(shí)時跟蹤準(zhǔn)直的目的。